2016

  • 강승엽, 정지훈, 박성주, “A Vehicle SoC Fault Diagnosis Technique using FlexRay Protocol”, 한국컴퓨터정보학회 논문지 21권 1호, 2016년 1월, pp 39-47 (ACK. KEIT)

  2015

  • 황도연, 김두영, 박성주, "차량용 SoC의 신뢰성 향상을 위한 CAN 통신 기반의 고장진단 플랫폼 설계", 대한전자공학회 논문지 제52권 제10호, 2015년 10월, pp 47-55 (ACK. KEIT)

  2014

  • 문창민, 김두영, 박성주, "Frequency-ordered 기반 FDR 테스트패턴 압축 알고리즘", 대한전자공학회 논문지, 제51권 제 5호, 2014년 5월, pp106~113 (Ack, NRF)

  2013

  • 임명훈, 김두영, 문창민, 박성주, "IEEE 1149.7 표준 테스트 인터페이스를 사용한 핀 수 절감 테스트 기술", 대한전자공학회 논문지, 제50권 제 9호, 2013년 9월, pp60~67 (Ack, NRF)
  • 오정섭, 정지훈, 박성주, "TSV 기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계기술", 대한전자공학회 논문지, 제50권 제 1호, 2013년 1월, pp131~136 (Ack. IPC, NRF).

  2011

  • 김화영, 오정섭, 박성주, "Redundancy TSV 연결 테스트를 위한 레퍼셀 설계", 대한전자공학회 논문지, 제48권 SD편 8호, 2011년 8월, pp18~24 (Ack. IDEC, NRF).
  • 송재훈, 오정섭, 박성주, "AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한 효과적인 테스트 설계 기술", 대한전자공학회 논문지, 제48권 SD편 2호, 2011년 2월, pp44~54 (Ack. IDEC, NRF).

  2010

  • 송재훈, 정태진, 정혜란, 김화영, 박성주, "스캔 설계된 AES 코아의 효과적인 비밀 키 보호 기술", 대한전자공학회 논문지, 제47권 SD편 2호, 2010년 2월, pp77~86 (without Ack).

  2009

  • 송재훈, 정태진, 박성주, "스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 새로운 AES 코아 키 보호기술", 정보과학회 논문지, 제36권 제1호, 2009년 2월, pp33~39 (Ack. System 2010, IDEC).

  2008

  • 송재훈, 한주희, 김병진, 정혜란, 박성주, "효율적인 SoC테스트를 위한 온/오프-칩 버스 브리지 활용기술에 대한 연구", 대한전자공학회논문지, 제45권 SD편 4호, 2008년 4월, pp105~116 (Ack. IT-SoC, KOSEF).
  • 이현빈, 한주희, 김병진, 박성주," IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-- 코아 테스트", 대한전자공학회 논문지 제 45권 SD편 2호, 2008년 2월, pp 61~68 (Ack. System 2010) .

  2007

  • 한주희, 송재훈, 이현빈, 김진규, 박성주,"Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴 생성 알고리즘에 관한 연구", 대한전자공학회 논문지   44 SD 12, 2007 12, pp 71 ~ 76(Ack. KOSEF) .
  • 김기태, 김진규, 이현빈, 박성주, "천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 인터페이스 회로 설계" 대한전자공학회 논문지 44 SD 11, 2007 11, pp 109 ~ 118 (Ack. KOSEF, IT-SoC).
  • 이현빈, 김진규, 정태진, 박성주, "저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 테스트 제어", 대한전자공학회 논문지 44 SD 11 ,2007 11, pp 65 ~ 73 (Ack. KOSEF).
  • 이현빈, 김두영, 한주희, 박성주, " 코아간 연결선의 지연 고장 테스트" 정보과학회 논문지 : 시스템 이론 34 2, 2007 2, pp. 84~ 91 (without Ack.).

  2006

  • 이현빈, 김기태, 권영민, 박성주, "파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계" 대한전자공학회 논문지 43 SC 6, 2006 11, pp. 40~47.(Ack.KETI).
  • 송재훈, 김두영, 김기태, 박성주, "저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법" 대한전자공학회 논문지 43 SD 10 2006 10 pp. 707~713. (Ack. KOSEF).
  • 김영훈, 김기태, 박성주, "IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계" 대한전자공학회 논문지 43 SD 10 2006 10 pp. 657~663. (Ack. KOSEF).
  • 민필재, 송재훈, 이현빈, 박성주, "AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 설계" 대한전자공학회 논문지 43 SD 10 2006 10 pp. 677~682. (Ack. System 2010).
  • 이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원, "다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 SoC 연결선 지연 고장 테스트 ", 대한 전자 공학회 논문지 43 SD 1, 2006 1 pp 37~44. (without Ack.).

  2005

  • 민병우, 이현빈, 송재훈, 박성주, "Crosstalk 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 BIST 구현", 대한전자공학회 논문지, Vol. 42, No.7, 2005 7, pp.475-482. (Ack. KOSEF).
  • 임호영, 윤미선, 신현철, 박성주, "저전력 시스템 설계를 위한 버스 분할 기술", 정보과학회 논문지, Vol. 32, No. 5.6, 2005 6  pp.324-332. (without Ack.).
  • 장연실, 이현빈, 신현철, 박성주, " 다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 칩을 위한 연결선 고장 테스트 제어기", 대한전자공학회 논문지, Vol. 42, No.5, 2005 5, pp.331-338. (Ack. KOSEF).

  2004

  • 조상욱, 박성주,"A New State Assignment Technique for Testing and Low Power",대한전자공학회 논문지, Vol. 41, No.10,2004 10, pp.859-866. (Ack. KOSEF).
  • 이현빈,박성주,민병우,박창원, "고성능 병렬 CRC 생성기 설계,한국통신학회 논문지, 29,9A, 2004 9, pp.1101-1107. (Ack. KETI).
  • 김태식, 민병우, 박성주, "재구성 가능한 시스템 테스트 제어기술의 개발", 대한전자공학회 논문지, Vol.41, No.8, 2004 8, pp.9-16. (Ack. KOSEF).
  • 조상욱,이현빈,박성주,"테스팅 저전력을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발",대한 전자공학회 논문지, Vol. 41, NO.1, 2004 1, pp.81-90. (Ack. KOSEF).

  2003

  • 이현빈, 박성주, "계층적 SoC 테스트 접근을 위한 명령어 기반 코아 연결 모듈의 설계", 대한전기학회, Vol.52D, No.3, 2003 3, pp.156-162. (Ack. KOSEF).
  • 송재훈, 박성주, 전창호, "계층적 SoC 테스트 접근을위한 플래그 기반 코아 연결 모듈의 설계", 전자공학회 논문지, Vol.40, 2003 1 , pp.52-60. (Ack. KOSEF).

  2001

  • 김태형, 박성주, "지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계", 전자공학회 논문지, Vol.38, No.10, 2001 10, pp.728-734.
  • 신상훈, 송재훈, 박성주, " 상위·하위 수준에서 통합된 테스트 합성 기술수준의 개발",한국정보과학회 논문지, Vol.28, NO. 5, 2001 6, pp.259-267 .

  2000

  • 조상욱, 양세양, 박성주, "부분 스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발", 전자공학회 논문지, Vol. 37, NO. 11, 2000 11, pp.67-73 .
  • 김태형, 윤수문, 박성주, "NPSFs 고려한 수정된 March 알고리즘", 전자공학회 논문지, VOL. 37, No. 4, 2000 4, pp.71-79.
  • 문병표, 박준석, 전창호, 박성주, 이동호, 한기택, "TMS320C67x 기반 병렬 신호처리 시스템의 설계와 성능분석", 한국정보처리학회 논문지, Vol.7, No. 1, 2000 1,  pp.65-74.

  1999

  • 박종욱, 신상훈, 박성주, "구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계", 한국정보과학회 논문지, Vol. 26, NO. 9, 1999 9, pp.1177-1184 .
  • 김태형, 박성주, "지연고장 탐지를 위한 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계", 한국정보과학회 논문지, Vol. 26, NO. 8, 1999 8, pp.1024-1030 .
  • 박준석, 전창호, 박성주, 이동호, 오원천, 한기택, "FFT 기반한 병렬 디지털 신호처리시스템의 성능분석", 한국음향학회 논문지, 1999, 1, pp.1-10.

  1998

  • 신상훈, 박성주, "상위 테스트합성 기술의 개발 동향", 대한전자공학회 논문지, VOL. 25, No. 11, 1998, 11, pp.42-50 .

  1997

  • 박종욱, 박성주, "가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계", 한국정보과학회 논문지, Vol. 24, NO. 6, 1997 6, pp.610-618 .
  • 박성주, "Partial Scan Design Based on Levelized Combinational Structure", 대한전자공학회 JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND INFORMATION SCIENCE, Vol. 2, NO. 3, 1997 6, pp.7-13.

  1995

  • 박성주, "연결선의 완벽한 진단을 위한 테스트 패턴의 생성", 대한전자공학회 논문지, Vol. 32, No. 9, 1995, 9 pp.114-120.

 


 

  • 박성주, "Microcode 방식의 메모리 BIST 회로 설계", 한양대학교 공학기술논문집, Vol.10, No.1, 2001 9, pp. 81-87.
  • 박성주, "상태천이 분석에 의한 부분 스캔 기술, 한양대학교 공학기술논문집, Vol.9, No.1, 2000 8, pp.69-75.
  • 박성주, "고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST 비교분석", 한양대학교 공학기술논문집, Vol.8, No.1, 1999 8, pp. 99-103.
  • 박성주, "Parity Testable Test Signal Compaction for Multiple Output Circuits", 한양대학교 생산공학논문집, Vol. 4, NO. 1, 1995 8, pp.23-30 .

 

   2016

  • 김진욱, 정지훈, 박성주, "Retention error의 정정을 위한 플래시 메모리 Scrubbing 기법", 제17회 한국테스트학술대회, 2016.06.21 (Ack. KEIT)
  • 김영성, Adil Ansari, 김두영, 정지훈, 박성주, "테스트 시간 효율을 위한 적층 반도체 테스트 구조", 제17회 한국테스트학술대회, 2016.06.21 (Ack. KEIT-TSV)
  • 김영성, 정지훈, 김두영, 박성주 "노화 모니터링 및 소프트 에러 회복 플립플롭 구조", 2016년 SoC 학술대회, 2016.05.28 (Ack. KEIT)

   2015

  • 김영성, 김두영, 정지훈, 박성주, "UFS 2.0 표준 검증을 위한 테스트 플랫폼", 2015년 제16회 한국 테스트학술대회, 2015년 09월 01일 (Ack.NRF)
  • 김진욱, 정지훈, 김두영, Muhammad Adil Ansari, 박성주, "LDPC decoder structure using spare memory", 2015년 제16회 한국 테스트학술대회, 2015년 09월 01일 (Ack.NRF)

   2014

  • 조준형, 정지훈, 박성주, "메모리 데이터의 신뢰성 향상을 위한 LDPC의 효과적 사용", 2014년 제41회 한국정보과학회 정기총회 및 동계학술발표회, 2014년 12월 18일, O4.3, total 3 (Ack. NRF)
  • 강승엽, 정지훈, 문창민, 박성주, "Vehicle SoC Diagnosis Technique using FlexRay Protocol", 2014년 제15회 한국 테스트 학술대회, 2014년 06월 25일, K, total 4 (Ack. NRF)
  • 황도연, 김두영, 문창민, 박성주, "Structural test based on AMBA using CAN protocol", 2014년 제15회 한국 테스트 학술대회, 2014년 06월 25일, Q, total 4 (Ack. NRF)
  • 황도연, 김두영, 박성주, "IEEE 1149.7 인터페이스를 이용한 차량용 칩 고장 진단 기술", 2014년 SoC 학술 대회, 2014년 05월 17일, M, total 2 (Ack. KEIT)

   2013

  • 황도연, 김두영, 문창민, 박성주, "CAN 프로토콜을 이용한 칩 고장 진단 기술 개발", 2013년 대한전자공학회 추계학술대회, 2013년 11월 23일, CFP-151, total 4 (Ack. IPC, KEIT)
  • 강승엽, 정지훈, 문창민, 박성주, "FlexRay를 이용한 자동차 신뢰성 향상 기법", 2013년 대한전자공학회 추계학술대회, 2013년 11월 23일, CFP-219, total 4 (Ack. IPC, KEIT)
  • 문창민, 김두영, 박성주, "테스트 비용 절감을 위한 스캔체인 기반의 저전력 테스트 패턴 압축기술", 2013년 대한전자공학회 하계종합학술대회, 2013년 07월 3일, CFP-261, total 4 (Ack. IPC, NRF).
  • 문창민, 김두영, 황도연, 강승엽, 박성주, "Low Power Compression Technique for Test Cost Reduction", 2013년 제14회 한국 테스트 학술대회, 2013년 06월 19일, O, total 4 (Ack. IPC, NRF).
  • Cheng Xing, Muhammad Adil Ansari, 정지훈, 박성주, "Analysis of Recent Secure Scan Test Techniques",  2013년 제14회 한국 테스트 학술대회, 2013년 06월 19일, P, total 4 (Ack. IPC, NRF).
  • 문창민, 강승엽, 황도연, 김두영, 박성주, "데이터 압축 기술 기반의 핀 수 절감 테스트 기술", 2013년 SoC 학술 대회, 2013년 05월 02일, M2-3, total 4 (Ack. IPC, NRF).

  2012

  • 임명훈, 박성주, "자동차 기능안전성 표존 ISO26262와 고 신뢰성 자동차연구 적용방안 분석", 2012년 SoC학술대회, 2012년 04월 21일, B6.2, total 4(Ack. IDEC).
  • 정지훈, 오정섭, 박성주, "TSV기반 3D IC Pre/Post Bond 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계기술" 2012년 제13회 테스트 학술 대회, 2012년 06월 27일 P.2, total 5 (Ack. IDEC).
  • 양우진, 정지훈, 박성주, "IEEE 1149.7 경계스캔을 이용한 Wafer RPCT 기술"  2012년 13회 테스트 학술 대회. 2012년 06월 27일 I.1, total 5 (Ack. IDEC).

  2011

  • 오정섭, 김화영, 정지훈, 박성주, "Redundancy TSV와 래퍼셀을 활용한 효율적인 TSV 병렬 테스트 구조 설계", 2011년 제 12회 한국테스트학술대회, 2011년 6월 22일, K-1, total 7 (Ack. NRF, IDEC).
  • 양우진, 권혁민, 정지훈, 박성주, "3D-SICs에 IEEE1149.7(CJTAG)의 클래스 T4를 이용한 DFT 기술", 2011년 제 12회 한국테스트학술대회, 2011년 06월 22일, K-2, total7 (Ack. NRF, IDEC).
  • Umair Ishaq, Jihun Jung and Sungju Park, "Performance Improvement by Logic Sharing on Using Unused Spare Columns for Memory EC", 2011년 SoC 학술대회, 2011년 04월 30일, A1.6, total 5, (Ack. NRF, IDEC).

  2010

  • Syed Mohsin Abbas, Umair Ishaq, Hyukmin Kwon, Hwayoung Kim, Sungju Park, "Unique Algorithmic Approach for Logic Sharing in Parallel BCH Encoders", 2010년 SoC 학술대회, 2010년 05월 1일, A5-7, total 4, (Ack. HEC).
  • 권혁민, 김화영, 송재훈, 박성주, "TSV환경에서 IEEE std 1149.7(CJTAG)을 적용한 DFT기술", 2010년 제 11회 한국테스트학술대회, 2010년 6월 29일, J-1, total 6 (Ack. IDEC).
  • Syed Mohsin Abbas, Jihun Jung, Sungju Park, "Logic Sharing Between Parallel BCH Encoder and CRC Encoder", 2010년 제 11회 한국테스트학술대회, 2010년 6월 29일, N-3, total 4 (Ack. HEC).
  • Umair Ishaq, Jungsub Oh, Woojin Yang, Sungju Park, "Efficient Logic Sharing in Parallel Chien Search Using Algorithmic Approach", 2010년 제 11회 한국테스트학술대회, 2010년 6월 29일, B-3, total 5

  2009

  • 황두찬, 정혜란, 김화영, 박성주, "코아의 기능성 래퍼를 IEEE 1500 래퍼로 재사용하기 위한 디자인 기법", , 2009년 제10회 한국테스트학술대회, 2009년 6월 24일, L-2, total 2(Ack. IT-SoC, IDEC).
  • 김민철, 권혁민, 이현빈, 박성주, "다중클럭 도메인 SoC의 Debug를 위한 효율적인 Design-for-Debug 기술", 2009년 제10회 한국테스트학술대회, 2009년 6월 24일, D-3, total 7(Ack. System2010).
  • M. A. Ansari, 김병진, 박성주, "Flit-Partitioned Parallel Test Technique for NoC Based SoCs", 2009년 제10회 한국테스트학술대회, 2009년 6월 24일, D-2, total 2 (Ack. IT-SoC, IDEC).
  • 이준섭, 정혜란, M. A. Ansari, 박성주, "AMBA AXI 기반의 효율적인 SoC 테스트 제어기 설계", 2009년 SoC 학술대회, 2009년 5월 16일, E-1, total 4(Ack. IT-SoC, IDEC).

  2008

  • 송재훈, 정태진, 정혜란, 김병진, 박성주, "스캔 기반 사이드 채널 공격에 대한 효과적인 AES 코어 키 보호 기술", 2008년 제9회 한국테스트학술대회, 2008년 6월 25일, C-3, total 6 (Ack. System2010).
  • 송재훈, 한주희, 황두찬, 이준섭, 박성주, "An Efficient Interconnect Test Patterns for Crosstalk and Static Faults", 2008년 제9회 한국테스트학술대회, 2008년 6월 25일, A-1, total 6 (Ack. IT-SoC).
  • 송재훈, 김병진, 김기범, 김민철, 박성주, "Optimal SoC Test Interface for Wafer and Final Tests", 2008년 제9회 한국테스트학술대회, 2008년 6월 25일, C-2, total 6 (Ack. KOSEF).
  • 이준섭, 송재훈, 김민철, 김기범, 박성주, "크로스토크 방지 기술을 적용한 칩 제작기법에서의 클럭 넷 쉴드 처리에 의한 셀 면적 오버헤드 개선", 2008년도 대한전자공학회 하계종합학술대회, 2008년 6월 18일, pp 445~446, total 2 (Ack. System2010).
  • 정태진, 송재훈, 이준섭, 정혜란, 황두찬, 박성주, "AES 코아의 비밀키 보호를 위한 새로운 시큐어 스캔 설계 기술", 2008년 SoC학술대회, 5월 10일, pp359~362 total 4,  (Ack. System2010)
  • 김병진, 정태진, 이준섭, 정혜란, 박성주, "SoC 테스트 비용 절감을 위한 다중 테스트기술", 2008년 IT-컨버전스 합동학술대회, 2월 21일, pp 330 ~ 332, total 3 (Ack. BK21).

  2007

  • 김진규, 이현빈, 이준섭, 정태진, 박성주, "Scan-Chain IEEE 1500 래퍼를 이용한 SoC 지연 고장 테스트" 2007 8 테스트학술대회, 6 29, F-4 , total 5, (Ack. IT-SoC)
  • 한주희,송재훈,조상욱,박성주, "효과적인 AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 AHB/PCI 버스 브리지 재사용 기술" 2007 8 테스트학술대회, 6 29, F-3 , total 7, (Ack. System 2010)
  • 이현빈, 김병진, 김진규, 권지연, 박성주,"테스트 축소에 의한 저비용 SoC 테스트 구조", 2007 8 테스트학술대회, 6 29, A-4 , total 4, (Ack. IT-SoC)
  • 이현빈, 김진규, 이준섭, 조상욱, 박성주, "저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계" 2007 SoC 학술대회, 5 26, S16-10, total 4 (AcK. KOSEF, IT-SoC)
  • 이현빈, 정태진, 한주희, 조상욱, 박성주, "AMBA 기반 임베디드 코아 테스트를 위한 IEEE 1500레퍼 설계" 2007 SoC 학술대회, 5 26, S16-10, total 4 (AcK. KOSEF, IT-SoC)
  • Piljae Min, Hyunbean Yi, Jaehoon Song, Sangwook Cho ,Sungju Park, "Highly Concurrent Test Access Mechanism for AMBA Based System-on-a-Chip", 2007 한국반도체 학술대회, 2 8~9, pp 765 ~766 total 2 (Ack. BK21)

   2006

  • 김기태, 한주희, 황두찬, 박성주 "천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계", 2006 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집2 29 2, pp391~394, 2006 11 25.(Ack. BK21)
  • 송재훈, 이현빈,김두영,한주희,박성주,"저전력 스캔 테스트 데이터 압축을 위한 혼성압축 기법", 7 한국 테스트 학술대회, pp241~246, 2006 6 30.(Ack. BK21)
  • 민필재, 송재훈, 김진규, 황두찬, 박성주,"AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘" 7 한국 테스트 학술대회, pp81~84, 2006 6 30.(Ack. BK21)
  • 민필재송재훈황두찬박성주 "AMBA 기반 SoC 위한 테스트 인터페이스 설계" 2006 SoC 학술대회  pp388~393, 2006 5 27.(Ack. System 2010)
  • 김기태, 한주희, 김진규, 박성주 "IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계" 2006 SoC 학술대회  pp382~387, 2006 5 27. (without Ack.)
  • 송재훈, 이현빈, 김두영, 박성주, "System-on-a-chip 테스트 주입시간 테스트 전력 감소를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 기술", 2006 2 23~24 13 한국반도체 학술대회 논문집 pp 889~890. (without Ack.)

  2005

  • 김기태, 이현빈, 박성주, 박창원, "파이프라인 구조를 적용한 병렬 CRC 회로 설계", 2005 11 26 대한 전자공학회 추계학술대회, pp. 789-792.(Ack. KETI)
  • 김주섭, 이현빈, 박성주, "논리 최적화 기법을 이용한 병렬 CRC 회로 설계", 2005 11 3~4 IT-SoC Conference 2005, pp.800-803. (without Ack.)
  • 민필재, 민병우, 박성주, "연결선의 Crosstalk 정적 고장 테스트 알고리즘 BIST 구현", 2005 11 3~4 IT-SoC Conference 2005, pp.804-807. (without Ack.)
  • 김영훈, 이현빈, 박성주, "다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 SoC 연결선 지연고장 테스트", 2005 11 3~4 IT-SoC Conference 2005, pp.808-810. (without Ack.)
  • 이현빈, 김주섭, 박성주, 박창원, "논리 최적화 기법을 이용한 병렬 CRC 회로 설계", 2005 7 6~8 한국 컴퓨터 종합 학술대회,  pp.460-462. (without Ack.)
  • 김영훈, 민필재, 김주섭, 김두영, 박성주, "IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계", 2005 7 1 6 한국테스트 학술대회, pp.71-75.(Ack. IT-SoC)
  • 이현빈, 김영훈, 김기태, 박성주, "다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 SoC 연결선 지연 고장 테스트", 2005 7 1 6 한국테스트 학술대회, pp.44-50. (Ack. IT-SoC)
  • 민필재, 민병우, 이현빈, 박성주, "Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults," 2005 5 21 SOC 학술대회, pp.248-253. (without Ack.)
  • 김영훈, 장연실, 이현빈, 박성주, "다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기,"  2005 5 21 SOC 학술대회, pp.283-288. (without Ack.)

  2004

  • 이현빈,박성주,전기만,"InfiniBand/PCI-Express 4X Framer/Deframer 모듈 FPGA설계, "2004 한국통신학회 추계종합학술대회 논문집, Vol30, 2004년도 11 20, pp.421. (Ack. KETI)
  • 민병우,이현빈,박성주,전기만,"A New Design of High Speed Parallel CRC Generator" 2004년도 한국통신학회 하계종합학술발표회 논문집, Vol.29 , 2004 7 16, pp.327.(Ack. KETI)
  • 장연실,민필재,박성주," At-Speed Interconnect Test Controller of SoC with Heterogeneous Cores of IEEE 1149.1 and P1500 " 2004년도 5 한국 테스트 학술대회 논문집, 2004년도 6 4, pp.139-143.(without Ack.)
  • Kyeongwon Yeom, Jaehoon Song, Younghun Kim, Sungju Park," An Unified Test Access Mechanism for Hierarchical SoC Testing ",2004년도 5 한국 테스트 학술대회 논문집, 2004년도 6 4, pp.127-132.(Ack. IT-SoC)
  • 민병우,송재훈,박성주," A New Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Fault ",2004년도 5 한국 테스트 학술대회 논문집, 2004년도 6 4, pp.100-104.(without Ack.)
  • 민병우,송재훈,민필재,박성주,"연결선의 crosstalk 정적 고장 테스트 알고리즘 BIST 구현에 관한 연구",대한 전자공학회 SoC 설계연구회 학술발표대회,2004 5 15,pp89-94.(without Ack.)
  • 염경원,송재훈,김영훈,박성주,"An Efficient Test Access Mechanism for Hierarchical SoC Testing",대한 전자공학회 SoC 설계연구회 학술발표대회,2004 5 15,pp83-88.(without Ack.)
  • 김태식, 염경원, 박성주, "A Simplified Core Access Switch for SoC Testing", 11 반도체학술대회, 2004 2 19-20, pp.153-154. (without Ack.)

  2003

  • 김태식, 염경원, 장연실, 박성주, "IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI 인터페이스 회로의 설계", 대한전자공학회 2003 SoC Design Conference, 2003 11 5-6,  pp.236-240. (Ack. KOSEF)
  • 이현빈, 김태식, 염경원, 박성주, 전기만, "논리단 축소에 의한 고속 8b/10b 인코더/디코더 설계", 대한전자공학회 2003 SoC Design Conference, 2003 11 5-6, pp.910-913. (without Ack.)
  • 김미숙, 이현빈, 민병우, 박성주, 박창원, "Maximum Delay analysis of InfiniBand Virtual Lane Scheduler", 2003년도 한국통신학회 하계종합학술발표회 논문집, Vol.27, 2003 7 10, pp.486.(Ack. KETI)
  • 김태식, 양준식, 장연실, 박성주, "IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI 인터페이스 회로의 설계", 2003년도 4 한국 테스트 학술대회 논문집, 2003년도 6 27, pp.91-96. (without Ack.)
  • 김태식, 염경원, 박성주, "재구성 가능한 시스템 테스트 제어기술의 개발", 2003년도 4 한국 테스트 학술대회 논문집, 2003년도 6 27, pp.124-129. (without Ack.)
  • 김태식, 염경원, 박성주, "이종 코아로 구성된 시스템 칩을 위한 재구성 가능한 테스트 제어기술의 개발", 2003년도 대한 전자공학회 CAD VLSI 설계 연구회 학술발표회 논문집, 2003년도 5 10, pp.280-286. (without Ack.)
  • 김태식, 양준식, 장연실, 박성주, "Test-Ready  PCI 인터페이스 제어기의 설계", 2003년도 대한 전자공학회 CAD VLSI 설계 연구회 학술발표회 논문집, 2003년도 5 10, pp.155-159. (without Ack.)
  • 조상욱, 박성주, "A New State Assignment Technique for Testing and Low Power", 10 한국반도체학술대회, 2003 2 27-28, pp.239-240. (without Ack.)

  2002

  • 이현빈, 박성주, 전기만, 고재진, "인피니밴드 Link Physical 인터페이스 제어기 설계",2002년도 한국통신학회 추계종합학술발표회 논문집, Vol.26 , 2002 11 23, pp.410.
  • 이현빈, 김미숙, 박성주, 손재기, "Best-Effort 서비스를 위한 인피니밴드 버츄얼 레인 스케쥴링", 2002년도 한국통신학회 추계종합학술발표회 논문집, Vol.26 , 2002 11 23, pp.9.
  • 왕길현, 김태식, 김태형, 오대식, 이현빈, 박성주, "SoC Test Design Technique Based on P1500 and JTAG Wrappers", 대한전자공학회 CAD VLSI 설계 연구회 2002 SoC Design Conference, 2002 10 23.
  • 조상욱, 박성주, "저전력 테스트를 고려한 순차회로 합성 기술의 개발", 대한전자공학회 CAD VLSI 설계 연구회 2002 SoC Design Conference, 2002 10 23.
  • 송재훈, 김태식, 박성주, "A Simple Wrapped Core Linking Module for SoC Test Access", 2002 IDEC Conference(summer), 2002 8 22-23, pp.147-152.
  • 송재훈, 김태형, 이현빈, 김태식, 박성, "계층적 SOC 테스트 접근을 위한 플래그 기반 코아 연결 모듈의 설계", 2002년도 3 한국 테스트 학술대회 논문집, 2002 5 17, pp.100-105.
  • 조상욱, 김미숙, 박성주, "테스팅 저전력을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발", 2002년도 3 한국 테스트 학술대회 논문집, 2002 5 17, pp. 61-67.
  • 송재훈, 왕길현, 조상욱, 오대식, 김태식, 박성주, "플래그 기반 SOC 테스트 제어기의 설계", 2002년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집, 2002 5 11, pp.287-292.
  • 조상욱, 김태형, 오대식, 윤수문, 김미숙, 박성주, "테스팅 저전력을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발", 2002년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집, 2002 5 11, pp.281-286.

  2001

  • 윤동규, 김태형박성주, "P1500 compliant Microcode-based Memory BIST for Testing of Embedded Memory", 2001년도 대한전자공학회  CAD VLSI설계 연구회 2001 SoC Design Conference, 2001 11 23, pp.742-747.
  • 송재훈, 이현빈, 양준식, 박성주, "A New Wrapped Core Linking Module for SoC Testing", 2001년도 대한전자공학회  CAD VLSI설계 연구회 2001 SoC Design Conference, 2001 11 22, pp.137-142.
  • 오형근, 김욱, 정수운, 전창호, 이동호, 박성주 "고속 병렬 신호처리 시스템 개발에 관한 연구", 한국정보과학회 가을 학술발표논문집III, Vol. 28, NO. 2, 2001 10 19-20, pp.847-849.
  • 윤동규, 김태형, 박성주, "A Microcode-based Memory BIST Implementing Modified March", 2001년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집,2001 5 12, pp.292-297.
  • 송재훈, 박성주, "An Efficient TAP Linking Module Design for SoC Testing", 2001년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집,2001 5 12, pp.146-152.
  • 윤동규, 김태형, 박성주, "A Microcode-based Memory BIST Implementing Modified March", 8 한국반도체학술대회 논문지,2001 2 14, pp.625-630.

 2000

  • 김진호, 전창호, 박성주, 이동호, "PCI 버스 기반의 고속 병렬신호처리보드의 개발", 2000년도 수중음향특화연구센터 학술발표대회 논문집, 2000 12 2, pp.85-90.
  • 신상훈, 송재훈, 조상욱, 박성주, "상태 천이 분석에 의한 스캔 플립플롭 선택", 2000년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집, 2000 5 13, pp122-127.
  • 오대식, 김태형, 박성주, 전창호, 이동호, "IEEE1149.1 경계스캔을 이용한 신호처리 시스템 검증에 관한 연구", 2000년도 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집, 2000 5 13,pp 128 -133.
  • 김태형, 윤수문, 김국환, 박성주, "Modified March algorithm considering NPSFs", 7 한국반도체 학술대회 논문집, 2000 1 26-28, pp. 265-266.

  1999

  • 조상욱, 양세양, 박성주, "부분 스캔을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발", 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, 1999 11 27, Vol. 22, No.2, pp. 392-395.
  • 김태형, 윤수문, 김국환, 박성주, "내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST 비교분석", 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, 1999 11 27, Vol. 22, No. 2, pp. 935-938.
  • 문병표, 박준석, 전창호, 박성주, 이동호, 한기택, "TMS320C67x 기반 병렬 신호처리 시스템의 설계와 성능분석", 한국정보과학회 춘계학술발표논문집(A), 1999 4, Vol.26, No.1, pp. 688-690.

  1998

  • 김태형, 박성주, "지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 Boundary Scan 설계 패턴 생성," 한국정보과학회 가을 학술발표논문집, Vol. 25, NO. 2, 1998 10 30-31, pp.662-664.
  • 문병표, 박준석, 오대식, 전창호, 박성주, 이동호, 오원천, 한기택 "병렬 디지털신호처리시스템의 설계와 성능분석," 한국정보처리학회 가을 학술발표논문지, Vol. 25, No. 2, 1998 10 , pp.724-726.
  • 박준석, 박광철, 박경택, 문병표, 전창호, 박성주, 이동호, 오원천, 한기택, "TMS320C67X 기반 병렬시스템의 설계 성능분석," 13 한국음향학회 수중음향학 학술발표회 논문집, 1998 10 23, pp.18-21.
  • 박광철, 박준석, 박경택, 전창호, 박성주, 이동호, 오원천, 한기택, "TMS320C67X 기반 시스템에서의 소나 알고리즘 병렬처리 기법," 11 한국음향학회 신호처리합동학술대회 논문지, 1998 10, pp.771~774.
  • 김태형, 박성주, "지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계", 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 21, NO. 1, 1998 6 27, pp.795-798.
  • 신상훈, 조상욱, 오대식, 박성주, "상위기능 수준에서 테스트합성 기술의 개발", 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 21, NO. 1, 1998 6 27, pp.791-794.
  • 박광철, 문병표, 전창호, 박성주, 이동호, "TMS320C40 이용한 소나 신호처리시스템의 성능분석," 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 21, No. 1, 1998 6 27, pp.643~646.
  • 박경택, 전창호, 이동호, 박준석, 오천원, 한기택, 박성주, "병렬 고속 디지털 신호처리시스템의 설계 성능분석", 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 21, NO. 1, 1998 6 27, pp.503-506.
  • 조상욱, 신상훈, 박종욱, 박성주, "상위수준에서 테스트합성 기술의 개발", 한국정보과학회 학술발표논문집, Vol. 25, NO. 1, 1998 4 , pp.373-375.

  1997

  • 박종욱, 박경택, 박성주, "구조분석 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계", 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, Vol. 20, NO. 2, 1997 11 22,  pp.1014-1017.
  • 박종욱, 박경택, 조상욱, 박성주, "다양한 번지생성과 PRPG 의한 메모리 BIST 비교분석", 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, Vol. 20, NO. 2, 1997 11 22, pp.1018-1021.
  • 전창호, 박성주, 이동호, 오원천, 한기택, "소나 표준 디지털 고속 신호처리기 개발", 한국군사과학기술학회, 1997 10 31, pp.189-198.
  • 박종욱, 박경택, 박성주, "구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계", 한국정보과학회 가을 학술발표논문집, Vol. 24, NO. 2, 1997 10 24-25, pp.729-732.
  • 박종욱, 박경택, 조상욱, 박성주, "고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 램덤 BIST 비교분석", 한국정보과학회 가을 학술발표논문집, Vol. 24, NO. 2, 1997 10 24-25, pp.733-736.
  • 박종욱, 박경택, 박성주, "고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST 구현", 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 20, NO. 1, 1997 6 28, pp.755-758.

  1996

  • 박종욱, 박성주, "개선된 랜덤 패턴 생성기를 이용한 고밀도 메모리 Built-in Self Test회로의 설계", 대한전자공학회 CAD VLSI 설계연구회지, Vol. 5, NO. 1, 1996 12, pp.49-58.
  • 박종욱, 박성주, "PRPG 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴 생성기의 설계", 대한전자공학회 추계종합학술대회 논문집, Vol. 19, NO. 2, 1996 11 23, pp.1598-1601.
  • 박종욱, 박성주, "가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계", 한국정보과학회 가을발표 논문집, Vol. 23, NO. 2, 1996 10 25-26, pp.499-502.
  • 박종욱, 김루진, 박성주, "완전한 조합회로화에 의한 부분스캔의 구현", 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집, Vol. 19, NO. 1, 1996 6 29, pp.603-606.
  • 박종욱, 박성주, "고밀도 DRAM 테스트를 위한 WRPT 생성기의 설계", 대한전자공학회 CAD VLSI설계 연구회 학술발표회 논문집, 1996 5 11, pp.149-156.

  1995

  • 박성주, "A New Complete Diagnosis Patterns for Wiring Interconnects", 대한전자공학회 하계학술대회 논문집, 1995 5 26, pp.1259-1264.

 


 

  • "상위·하위수준에서 테스트합성의 통합" - 정보통신연구단, 1998.
  • "구조 분석에 의한 부분스캔의 구현" - 한국과학재단, 1997.
  • "구조 분석에 의한 부분스캔의 구현" - 한국과학재단, 1996.
  • "고밀도 DRAM테스트를 위한 BIST 생성기 압축기의 구현" - 한국전자통신연구소, 1997.
  • "고밀도 DRAM테스트를 위한 BIST 생성기 압축기의 구현" - 한국전자통신연구소, 1996.

 

  • "At-speed Test Controller for SoC With Multiple Clocks and Heterogeneous Cores", 박성주, IP-10865, ver1.0, 2005/06/13.
  • "Test-Ready PCI Target Interface Core", 김태식, IP-10707, ver1.0, 2003/06/18.
  • "P1500 Wrapped Core" , 왕길현, IP-10701, ver1.0, 2003/05/28.
  • "WCLM (Wrapped Core Linking Module)", 송재훈, IP-10347, ver1.0, 2002/04/26.
  • "AST TAP (At Speed Testable TAP)", 김태형, IP-10422, ver1.0, 2001/06/08.

 

  • "관용어와 라이브러리를 중심으로 C언어와 프로그래밍", ()교보문고, 1998, 806p().
  • "컴퓨터 입문 - 기본 이론과 실습 - ", 한양대학교 출판부, 1997, 170p(편저).